nuntium

Ioannes D'Amore disputavit de usu impedimenti analystrorum et adfixarum professionalium ad materias dielectricas et magneticas notandas.
Solemus cogitare de progressu technologico ex exemplaribus generationibus telephonicis mobilis vel semiconductoris nodis processu fabricandis. Hae notas utiles praebent, sed obscuros progressus ad technologias efficiendas (sicut campus materiarum scientiarum).
Quisquis in CRT TV seorsim abstulerit vel in antiquae potentiae copia deflexerit, unum sciet: Saeculo XX uti non potes ut electronicas saeculi XXI efficias.
Exempli causa, rapidi progressus in scientiarum materiarum et nanotechnologia novas materias creaverunt cum notis necessariis ad altam densitatem, summus faciendorum inductores et capacitores.
Progressio instrumentorum hisce utens materiae requirit accurate mensuras proprietatum electricae et magneticae, ut permissio et permeabilitas, in amplitudine frequentiarum operandi et per regiones temperaturas.
Materiae dielectricae partes electronicas in electronicis ut capacitores et insulatores agunt. Constans materiae dielectricae componi potest componendo compositionem suam et/vel microstructuram, praesertim ceramicam.
Magni interest ut dielectric proprietates novarum materiarum primo mane in cyclo evolutionis componente metiantur praedicere opera sua.
Proprietates electricae materiarum dielectricarum earum permissionis complexae notantur, quae ex partibus realibus et imaginariis consistit.
Vera pars dielectric constans, etiam dielectric constans, facultatem materiae ad energiam reponendam cum electrico agro subiectam repraesentat. Comparata cum materiis constantibus dielectricis inferioribus, materias cum superioribus dielectricis constantibus plus energiae per unitatem voluminis reponere possunt. quae facit eos utilia ad capacitatem densitatis.
Materiae cum inferioribus constantibus dielectricis insulatoribus in notis systematibus transmissionibus utiles adhiberi possunt, idcirco quod magnas vires energiae recondere non possunt, eo quod signum propagationis morae obscuratis per aliqua fila ab eis insulata sunt.
Pars imaginaria complexi permittivity repraesentat industriam a materia dielectric in electrico dissipatam. Haec diligentem administrationem requirit ad vitandum nimium industriam in machinis, sicut capacitores cum his novis materiis dielectricis factis.
Variae sunt methodi dielectricum constantem metiendi. Methodus parallela materiam sub test (MUT) inter duas electrodes collocat. Aequatio quae in Figura 1 demonstrata est, adhibetur ad metiri impedimentum materiae et eam convertendi ad permittivity complexi, quae refert ad crassitudinem materiae et areae et diametri electrodis.
Haec methodus maxime adhibetur ad mensurationem frequentiam demissam. Etsi principium simplex est, mensura accurata difficilis est propter errores mensuras, praesertim propter materias demissas.
Complexum permittivity cum frequentia variat, ideo in frequentia operante aestimari debet. In frequentia alta, errores causati per systema mensurationis crescent, inde in mensuras inaccuratas.
Materia dielectrica fixtura test (ut Keysight 16451B) tres electrodes habet. Duae ex eis capacitorem formant, et tertia electrode tutelae praebet. Electrode tutela necessaria est quia cum campus electricus inter duas electrodes partem constituitur. campus electricus per Mut inter eos inauguratus fluet (vide Figure 2).
Exsistentia huius fimbriae agri potest ducere ad erroneam mensuram dielectricae constantis MUT.
Si proprietatibus dielectricis materialis metiri vis, interest te solum materiam metiri et nihil aliud. Quapropter magni momenti est curare ut specimen materiale valde planum sit ut omnem aerem intervallum inter illam et inter abolere. electrode.
Dupliciter hoc assequi potest. Primus est tenues electrodes applicare ad superficiem materiae explorandae. Alter est permissio complexa, comparando capacitatem inter electrodes, quae mensuratur praesentia et absentia. de materiis.
Custodes electrodis adiuvat ad emendandas mensuras accurationes in frequentiis humilibus, sed adversatur campum electromagneticum in magnis frequentiis. Quidam testers ad libitum materiae dielectricae adfixa praebent electrodes compactas quae utiles frequentiae range huius mensurae ars extendere possunt. Software etiam possunt auxilium eliminare effectibus fringing capacitatem.
Errores residuales per fixtures et analysres causati reduci possunt per ambitum apertum, ambitum brevem et recompensationem oneris. Impedimentum analysres quaedam aedificaverunt in hac recompensatione functionis, quae adiuvat ut mensuras accurate per multam frequentiam complectantur.
Aestimans quomodo proprietates materiae dielectricae cum temperatura mutationis usum requirunt cubicula temperata continentium et cabulorum caloris resistentia. Aliquot analysres programmata praebent ut cellam calidam et ornamentum funis repugnantis refrenans.
Sicut materiae dielectricae, materiae ferritae constanter augendae sunt, et late in instrumentis electronicis sicut inductiis componentibus et magnetibus adhibentur, ac transformatores, campi magnetici absorbores et suppressores.
Claves harum materiae proprietates earum permeabilitas et detrimentum in frequentiis operandi criticis includunt. Impedimentum analyser cum materia magnetica fixtura mensuras accurate et iterabiles per magnas frequentias range praebere potest.
Sicut materias dielectricas, permeabilitas materiae magneticae est complexa proprietas expressa in partibus realibus et imaginariis. Terminus verus repraesentat facultatem materialis ad fluxum magneticum ducendum, et terminus imaginatus damnum in materia repraesentat. Materiae magnae permeabilitatis magneticae esse possunt. usus ad magnitudinem et pondus systematis magnetici minuendum. Damnum componentis permeabilitatis magneticae minui potest ad maximam efficaciam in applicationibus sicut transformatores, vel maximised in applicationibus ut protegendi.
Complexum permeabilitas determinatur ab impedimento inductoris a materia formati. In pluribus, frequentia variat, sic notari debet in frequentia operativa. Ad materias demissas, phase angulus impedimenti criticus est, quamvis accuratio phase mensurae plerumque insufficiens est.
Magnetica permeabilitas etiam cum temperatura mutatur, ideo ratio mensurae accurate aestimare poterit proprietates temperaturas supra multam frequentiam range.
Complexum permeabilitas metiendo impeditionem materiae magneticae derivari potest. Hoc fit, involvendo nonnulla fila circa materiam et impedimentum circa finem filum filum. Eventus variari potest secundum quomodo filum vulnus est et commercium. campi magnetici cum ambitu eius ambiente.
Materia magnetica fixtura experimenti (vide Figura 3) unicum ductorem praebet, qui ambit toroidalem spiram MUT. Nulla lacus fluxus in uni- versi inductione, sic campus magneticus in fixtura theoria electromagnetica computari potest. .
Cum in coniunctione cum impedimento / materiali analystoris adhibetur, simplex forma coaxialis fixturae et toroidalis MUT accurate aestimari potest, et frequentem insitam consequi potest ab 1kHz ad 1GHz.
Error causatus per systema mensurationis ante mensurationem tolli potest. Error causatus per impedimentum analystoris calibrari potest per tres terminus errorum correctionis. In frequentiis superioribus, capacitor calibrationis humilis damnum meliorem periodum acutam accurate emendare potest.
Fixtura alium fontem erroris praebere potest, sed quaelibet residua inductio compensari potest per metiendo fixturam sine Mut.
Ut cum dielectricis mensuris, gazophylacium temperatum et retinacula caloris resistentia requiruntur ad aestimandas proprietates materiae magneticae temperaturae.
Meliora telephona mobilia, provectiora systemata subsidia coegi, et laptops citius omnes in incrementis continuis in amplis technologiarum confidunt. Metiri possumus progressum processus nodis semiconductoris, sed series technologiarum adiuvandi celeriter evehitur ut hos novos processus fieri sinat. in usum immittere.
Progressus novissimi materiae scientiarum et nanotechnologiarum effecit ut materias melioribus dielectricis et magneticis proprietatibus produceret quam ante. Sed horum progressionum mensurans est processus varios, praesertim quia non est opus commercium inter materias et adfixas in quibus instituuntur.
Instrumenta et adfixa bene cogitata multa ex his quaestionibus superare possunt et certas, iterabiles et efficientes dielectricae et magneticae materiales possessiones mensuras utentibus utentes qui specificae in his agris non habent peritiam. Eventus debet citius instruere materiae provectae per totum electronic ecosystem.
"Electronic Weekly" collaboravit cum RS Grass Roots ut focus in introducendis clarissimis iuvenibus fabrum electronicarum in UK hodie.
Mitte nostrum nuntium, blogum et commentationes directe ad inbox tuam! Inscribe pro e-septimanis newsletter: stilum, gadget guru, et cottidianam et hebdomadalem rotunditatem.
Legite supplementum speciale nostrum celebrandi LX anniversarium hebdomadae Electronic electronicae et expectamus futura industriae.
Primam quaestionem de Electronic Weekly online lege: die 7 Septembris 1960. Primam editionem lustravimus ut ea frui possis.
Legite supplementum speciale nostrum celebrandi LX anniversarium hebdomadae Electronic electronicae et expectamus futura industriae.
Primam quaestionem de Electronic Weekly online lege: die 7 Septembris 1960. Primam editionem lustravimus ut ea frui possis.
Audi hoc podcast et audi Chetan Khona (Director Industrie, Visionis, Curis et Scientiae, Xilinx) loqui quomodo Xilinx et semiconductor industriae respondeant emptori necessitati.
Hoc loco utendo, ad crustularum usum consentis.Electronics Weekly possidetur Metropolis Internationalis Group Limitata, membrum Metropolis Group;inspicere potes nostrum secretum et crustulum hic consilium.